Kontrastarme Oberflächendefekte wie Dellen, Beulen, Pickel oder andere schwache Unebenheiten sind mit herkömmlichen Bildverarbeitungssystemen schwer bis gar nicht zu detektieren. Keyence hat nun ein in-line Deflektometrie-System namens Lumi Trax herausgebracht, das selbst kleinste Defekte auf unterschiedlichsten Oberflächen findet.
Möglich wird dies durch die Kombination aus einer Zeilenkamera in exakter Synchronisation mit einem High-Speed-LED-Streifenprojektor und ausgefeilten Algorithmen zur Bildanalyse. Je aufgenommener Zeile kann der LED-Projektor unterschiedliche Beleuchtungsarten liefern, von diffus über gerichtet bis strukturiert. So kann ein Objekt bei nur einem Durchlauf mit bis zu fünf unterschiedlichen Beleuchtungseinstellungen charakterisiert werden. Damit erkennt das System Defekte außer im normalen Bild auch über die Erfassung der spiegelnden Anteile, diffusen Anteile, des Glanzgrades und der Topographie.
Der Anbieter hat die Lumi-Trax-Plattform so gestaltet, dass selbst Einsteiger das System in 20 min in Betrieb nehmen können. Es enthält alle Komponenten, von der Zeilenkamera über das Objektiv, die Beleuchtung und den Encoder bis zum industriellen PC und der Software. Der Einstellnavigator macht die Installation maximal einfach: Ein in die Kamera integrierten Laser-Pointer visualisiert den Inspektionsbereich. In Kamera und Beleuchtungsprojektor integrierte Gyrosensoren messen die Ausrichtung jedes Geräts, so dass die Ausrichtung zueinander schnell justiert ist.
Über eine intuitive grafische Bedienoberfläche kann der Entwickler leistungsstarke Algorithmen so konfigurieren, dass sie die in Frage kommenden Defekte zuverlässig erkennen. Die flexiblen Konfigurationsmöglichkeiten des Systems mit Zeilenkameras (2k bis 8k Auflösung) und Beleuchtungen erlauben eine Anpassung an fast jedes Anwendungsszenario. mc
