Die Planar-Scanner von NSI/MI Technologies, Atlanta/USA, sind im Bereich der Nahfeldmesssysteme gute Systeme zur Messung von Antennen mit mittlerem oder hohem Gewinn (15 dBi) und eignen sich etwa für die Prüfung von Antennen-Arrays oder Reflektorantennen. Die in Deutschland von der Telemeter Electronic GmbH, Donauwörth, gelieferten Scanner sind mit einer Vielzahl von HF-Subsystemen kompatibel und können Amplituden- und Phasen-Pattern vom L-Band bis zum Millimeter-Wellenband messen. Das System beinhaltet eine professionelle NSI/MI-Antennen-Messsoftware. Die Systemsoftware läuft auf einer Intel-basierten Workstation und ermöglicht die automatische Einrichtung von Scans, basierend auf Messparametern und gewünschter Leistung. Die gemessenen Daten werden so verarbeitet, dass eine Fernfeld-Transformation oder ein holographisches Muster entsteht. Dies ermöglicht eine vollständige Charakterisierung der Leistung der Antenne. Ein einzelner Datensatz liefert Informationen über Antennengewinn, Nebenkeulenstruktur, Strahlrichtung und Kreuzpolarisation.
Auflösung von (X/Y) 0,025 mm RMS
Die Planar-Nahfeldmesssysteme verfügen über eine Vielzahl an Optionen. Sie können zusätzlich erweitert werden, um zylindrische oder kugelförmige Messungen zu ermöglichen und somit den Systemnutzen zu erweitern. Weitere Leistungsmerkmale sind die stabile Stahlrahmenkonstruktion, über Präzisions-Schrittmotoren gesteuerte X/Y-Verfahr-Achsen und ein Scan-Bereich je nach Modellausführung zwischen 30 cm x 30 cm bis hin zu 9100 cm x 9100 cm. Die erhältlichen Planar-Scanner besitzen eine Auflösung von (X/Y) 0,025 mm RMS und eine Scan-Geschwindigkeit X-Richtung 0,25 – 0,38 m/s sowie Y-Richtung 0,385 – 0,76 m/s. Weitere Optionen wie HF-Subsysteme, mm-Wellen Module, Z-Verfahrachsen oder Antennenhalterungen sind erhältlich. mc
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